Annexin V-EGFP/PI 細(xì)胞凋亡檢測(cè)試劑盒圖片

AnnexinV-EGFP/PI細(xì)胞凋亡檢測(cè)試劑盒，通過熒光標(biāo)記區(qū)分凋亡各階段：EGFP標(biāo)記早期凋亡細(xì)胞膜外翻的PS，PI穿透晚期凋亡/壞死細(xì)胞核，雙染技術(shù)讓細(xì)胞狀態(tài)一目了然，配套優(yōu)化步驟確保1小時(shí)內(nèi)完成高靈敏度檢測(cè)。