詳細摘要： 逸出氣體分析系統 EGA - In-Situ

詳細摘要： 當前，各行各業都廣泛使用HPLC系統。在新藥研制，食品安全檢測，環境標準檢測的過程中都需要高度可靠的分析數據和快速有效的分析流程。而且，在許多分析技術設備中都使...

詳細摘要： 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品...

詳細摘要： 場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系...

詳細摘要： JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100P...

詳細摘要： JEOL IDES 產品：飛秒級時間分辨率電子顯微鏡及其相關附屬設備

詳細摘要： JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統以及光學顯微鏡圖像的聯動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微...

詳細摘要： 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰...

詳細摘要： 以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計...

詳細摘要： JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分...

詳細摘要： JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡...

詳細摘要： “NEOARM" 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的...

詳細摘要： CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。與上...

詳細摘要： JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。

詳細摘要： JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡

詳細摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學控制系統Neo Engine，一個新開發的操作GUI“SEM Cen...

詳細摘要： CRYO ARM? 300 II (JEM-3300) 場發射冷凍透射電子顯微鏡CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋...

詳細摘要： JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發射電子槍、新一代電子光學控制系統Neo Engine、一體化...

詳細摘要： 日常使用的SEM，好用！ 該設備分辨率1nm、探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設計緊湊、配備大樣品室。

詳細摘要： JEOL InTouchScope?系列的新機型, 采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設...